YRi-V
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YRi-V
- 超高度、高精度的檢查
- 支持半導體領域的檢查
- 強化基板傳送能力
- 有效利用AI的最新軟體解決方案
基本規格
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對象基板尺寸 |
L610 x W610mm (max.) to L50 x W50mm (min.) (single lane) L750mm long length PCBs available (option) |
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基板可搬入的元件高度 |
Top : 45mm, bottom : 85mm (single lane) |
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最大3D測量高度 |
25mm |
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相機相素 |
12Megapixels |
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4方向斜視相機像素 |
20Megapixels |
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3D 檢查速度(最佳條件下) 4方向投影裝置 |
12μm resolution |
7μm resolution |
5μm resolution |
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56.8c㎡/s |
19.6c㎡/s |
10.1c㎡/s |
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外形尺寸 |
L1,252 x W1,497 x H1,614mm |
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主體重量 |
1,480kg |
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規格、外觀如有變動，恕不另行通知。